Στην ομιλία αυτή θα συζητήσουμε εφαρμογές της μορφοκλασματικής γεωμετρίας στην μικροηλεκτρονική και της πολυπλοκότητας στη νανοτεχνολογία. Και στις δύο περιπτώσεις το σημείο επαφής θα είναι η τραχύτητα των επιφανειών στη νανοκλίμακα. Στην περίπτωση της μικροηλεκτρονικής θα εστιάσουμε στην τραχύτητα των επιφανειών της δομής των τρανζίστορ στο πρώτο στάδιο της λιθογραφικής σχηματοποίησής τους, ενώ στη νανοτεχνολογία θα εισάγουμε την έννοια της πολυπλοκότητας επιφανειών και θα διερευνήσουμε τη σύνδεσή της με τις ιδιότητες των επιφανειών (κυρίως οπτικές και διαβροχής) και τις άλλες μεθόδους περιγραφής της μορφολογίας τους. Θα τονίσουμε την κρίσιμη σημασία της τραχύτητας και της στοχαστικότητας στη σύγχρονη βιομηχανία των ημιαγωγών και τη σύνδεσή τους με τη μετάβαση από την αρχιτεκτονική von Neumman στις νευρομορφικές προσεγγίσεις. Τέλος, θα επιστρέψουμε σε ποιους θεωρητικούς προβληματισμούς και θα συζητήσουμε κατά πόσο μπορούμε να ορίσουμε την πολυπλοκότητα μιας επιφάνειας ως την αντίστασή της στην ομογενοποίησή της.